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第七届中国二次离子质谱会议在苏州成功举办
2018-10-17| 文章来源:纳米真空互联实验站 芮芳| 【

  108日至12日,由纳米真空互联实验站承办的第七届中国二次离子质谱会议The 7th Chinese National Conference on Secondary Ion Mass SpectrometrySIMS)在苏州西交利物浦会议中心酒店成功举办,丁孙安研究员、台湾清华大学凌永建教授、香港科技大学翁禄涛教授担任大会主席。 

  清华大学查良镇教授,台湾国立清华大学凌永健教授,香港科技大学翁禄涛教授,北卡罗莱纳州立大学Fred Stevie教授、科廷大学David Saxey教授,日本京都大学Jiro Matsuo教授,中科院地质与地球物理研究所周新华、李献华、苏本勋研究员,中科院化学所汪福意研究员等100余名国内外SIMS研究人员出席了会议。Fred StevieCharles MageeArnaud DelcorteJiro MatsuoSIMS领域国际知名专家学者为本次会议作了精彩的特邀报告。 

  会前,为普及SIMS基础理论知识,会议学术委员会和组委会特邀质谱、SIMS领域专家Fred STEVIELu-Tao WENG 、汪福意等为参会的青年科研人员举行了为期一天的SIMS基础、仪器和分析应用的会前课程短训。 

  会上,首先杨辉所长致大会开幕词, 随后与会专家针对SIMS仪器研发、理论发展及其在不同领域的开拓应用进行了精彩的汇报,引发了参会人员的热烈讨论。会议组委会特邀清华大学陈旭书记授予查良镇教授终生成就奖,查良镇教授终生致力于二次离子质谱的学术研究、学生培养、技术发展与推广,成就卓越。

  会后,与会专家参观了纳米真空互联实验站,对飞行时间二次离子质谱仪的运行进行现场考察及学术交流。参观过程中向各位专家介绍了Nano-X的建设背景、科研项目研究现状、平台运行等情况。重点介绍了真空互联设施以及合作课题展开情况,来访的专家学者Nano-X建设给予极大的肯定,并提出了宝贵建议和期望,同时期待与Nano-X展开进一步的深入合作。 

  本次会议为我国二次离子质谱界提供了学术研讨、技术交流与合作的平台,展示了最新的研究成果,有力地促进二次离子质谱技术在各领域的应用推动了我国二次离子质谱研究的发展。 

  会议现场   

  颁奖现场 

  集体合照 

    

 
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