SN201612466 电子器件光电缺陷无损成像分析系统
发布时间:2017-03-07
发布时间:2017-03-07 | 文章来源: | 【 大 中 小 】 | 【打印】 【关闭】
品名 |
电子器件光电缺陷无损成像分析系统 |
型号 |
FX2-MPL301-SIN |
制造商 |
北京卓立汉光仪器有限公司 |
主要功能 |
系统可以实现PL,EL和Mapping测试功能 |
技术指标 |
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整体性能完好。微区光路测试PL
EL寿命等。
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光斑大小2um,能量输出不小于10nw。
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样品成像扫描范围大于3*3mm。重复定位优于2um。
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EL
PL测试范围400-1000nm,光谱分辨率1
nm
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LBIC电流输出信号精度0.5PA.信号稳定性±2%。
可使用设备测试1ns以上的寿命测量。
设备现状 |
完好 |
收费标准 |
面议 |
管理员 |
骆群 |
联系方式 |
62872730 |
设备照片 |
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