Effect of surface treatment of GaN based light emitting diode wafers on the leakage current of light emitting diode devices

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作者: Wang LJ; Zhang SM; Zhu JH; Zhu JJ; Zhao DG; Liu ZS; Jiang DS; Wang YT; Yang H (杨辉)
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刊物名称: Chinese Physics B
年: 2010-01
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