Microstructure and strain analysis of GaN epitaxial films using in-plane grazing incidence x-ray diffraction
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| 作者： | Guo X; Wang YT; Zhao DG; Jiang DS; Zhu JJ; Liu ZS; Wang H; Zhang SM; Qiu YX (邱永鑫); Xu K (徐科); Yang H (杨辉) |
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| 刊物名称： | CHINESE PHYSICS B |
| 年： | 2010-07 |
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