Analysis of surface roughness in Ti/Al/Ni/Au Ohmic contact to AlGaN/GaN high electron mobility transistors
| 论文编号： | |
|---|---|
| 第一作者所在部门： | |
| 论文题目英文： | |
| 作者： | Gong RM; Wang JY; Liu SH; Dong ZH; Yu M; Wen CP; Cai Y (蔡勇); Zhang BS (张宝顺) |
| 论文出处： | |
| 刊物名称： | Applied Physics Letters |
| 年： | 2010-08-09 |
| 卷： | |
| 期： | |
| 页： | |
| 联系作者： | |
| 收录类别： | |
| 影响因子： | |
| 摘要： | |
| 英文摘要： | |
| 外单位作者单位： | |
| 备注： |
