Effect of light Si-doping on the near-band-edge emissions in high quality GaN

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作者: L. C. Le; D. G. Zhao; D. S. Jiang(江徳生); L. L. Wu; L. Li; P. Chen; Z. S. Liu; J. J. Zhu(朱建军); H. Wang(王辉); S. M. Zhang(张书明); H. Yang(杨辉)
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刊物名称: Journal of Applied Physics
年: 2012-9-1
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