Positive and negative effects of oxygen in thermal annealing of p-type GaN
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| 作者： | L L Wu; D G Zhao; D S Jiang; H Yang（杨辉）; P Chen; L C Le; L Li; Z S Liu; S M Zhang（张书明）; J J Zhu（朱建军）; H Wang（王辉）; B S Zhang（张宝顺） |
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| 刊物名称： | Semiconductor Science and Technology |
| 年： | 2012-8 |
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