Enhancement-Mode InAlN/GaN MISHEMT with Low Gate Leakage Current

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作者: Gu GD(顾国栋); Cai Y(蔡勇); Feng ZH(冯志红); Liu B(刘波); Ceng CH(曾春红); Yu GH(于国浩); Dong ZH(董志华); Zhang BS(张宝顺)
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刊物名称: Journal of Semiconductors
年: 2012-6
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