中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

SiO2钝化层对GaN基PIN结构核探测器漏电流的影响

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作者：	袁愿林; 姚昌胜; 王果; 陆敏
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刊物名称：	固体电子学研究与进展
年：	2012-4-25
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