7月10日上午，半导体显示材料与芯片重点实验室邀请到清华大学电子工程系汪莱教授和微玖（苏州）光电公司创始人王程功博士来所分别做“LED内量子效率的测量”和“The Opportunity and Challenge of Microled Display for AR”的学术报告，报告会由孙钱研究员主持，吸引所内相关专业师生积极参与。

LED在照明和显示领域具有广泛应用。LED的功率效率和外量子效率（EQE）可以直接测量得到，但内量子效率（IQE）一直以来缺乏测试标准。正确测试表征内量子效率有助于理解载流子输运和复合的过程，为优化LED提供指导。汪莱教授在报告中介绍目前IQE测量的一些方法，包括光学方法和电学方法，具体分析了每种方法的原理、适用范围和存在的问题，并介绍了课题组在该领域研究的一些前沿进展。

Micro-LED因其具有出色的光电特性，近年来在科研界和产业界的不断努力和探索下在显示领域取得了长足的进步，被认为是AR显示的最佳选择，但是其全彩方案一直未能确定。王程功博士在报告中结合终端对产品的理解和分析，探讨了AR用全彩Micro-LED显示技术的规格，需求和相关技术难点。同时介绍了苏州微玖光电公司在该领域的技术发展和产业布局。

报告会结束后，大家进行了广泛而深入的讨论和交流，两位报告人对大家提出的问题进行了详细的解答，现场气氛活跃。通过此次报告交流，广大相关专业师生对LED相关技术测量和产业化发展方面有了更深入的了解。

汪莱教授作报告

王程功博士作报告